简介： 本发明公开了一种弱磁场梯度测量的装置及方法,所述的装置包括探头、选频放大电路、含A/D和D/A的单片机系统、升压驱动电路、显示单元,所述探头包括传感器、振动部件和外壳,振动部件为悬臂梁结构的压电双晶片,传感器安装在振动部件的自由端;所述的方法包括采用自相关检测技术,通过传感器的振动将静态的磁场分布调制成恒定频率的微弱交流信号输出,由选频放大电路对该微弱信号进行放大,由单片机系统A/D转换并作自相关运算处理,算出信号的峰峰值电压,该电压正比于被测量的磁场梯度值。本发明测量灵敏度高、成本低;不受工作环境条件限制;本发明尤其应用于金属磁记忆无损检测时,没有微分噪声,对缺陷和应力集中检测准确性高。