简介： 本发明公开一种针对高深宽比曲面构件面形测量的测量系统，其包括双探头测量机构、探头驱动机构、构件移动机构，双探头测量机构包括激光干涉光针及扫描触针，两者探头间隔设置，并依次对曲面构件进行扫描；探头驱动机构驱动双探头测量机构对曲面构件进行随形扫描；构件移动机构带动曲面构件作回转运动。本发明还公开了基于上述测量系统的测量方法，其综合激光干涉光针在曲面轮廓、无损检测方面的优势以及高长径比扫描触针对大曲率、小间隙结构的检测优势，并优化其测量方法，实现了复杂高深宽比曲面构件跨尺度特征的全表面检测。