简介： 本发明涉及一种用于对电子器件进行缺陷检查的方法，所述方法具有以下步骤：通过自动光学检查对生产线中的电子器件进行检查；确定无法用自动光学检查进行检查的区域的坐标；将所述区域的坐标从生产线传输给计算机；将电子器件从生产线转移到用于无损材料检测的X射线装置中，所述X射线装置设置在生产线之外；将所述区域的坐标由计算机传输给X射线装置；仅在不能利用自动光学检查进行检查的区域中，通过X射线装置进行检查；将在X射线装置中进行的检查的结果传输给计算机；如果结果是电子器件没有缺陷，则将所述电子器件回送到生产线中。