简介： 本发明公开了一种奥克托今颗粒表面粗糙度检测方法，该方法通过将奥克托今粗品颗粒精制，确定需要抽取的待测样品的数目，依据随机数表抽取待测样品，测量待测样品的表面粗糙度，计算轮廓算术平均偏差平均值与轮廓算术平均偏差示值误差，最后报告与表示。本发明采用光学法进行测试，实现了无损、非接触测试，量化奥克托今颗粒表面粗糙度值，以此分析和评价高品质奥克托今。