简介:
本发明提供了硫代巴比妥酸多晶型的太赫兹光谱检测方法。本发明的解决了现有检测方法中存在的样品制备繁琐、分析复杂、光子能量高可能导致晶型转变的问题。本专利利用溶剂重结晶法制得硫代巴比妥酸多晶型,再利用太赫兹时域光谱技术对硫代巴比妥酸多晶型进行测量,得到它们在的太赫兹波段的光学参数。本发明用太赫兹时域光谱技术测定样品方法简单、快捷、无损。
本发明提供了硫代巴比妥酸多晶型的太赫兹光谱检测方法。本发明的解决了现有检测方法中存在的样品制备繁琐、分析复杂、光子能量高可能导致晶型转变的问题。本专利利用溶剂重结晶法制得硫代巴比妥酸多晶型,再利用太赫兹时域光谱技术对硫代巴比妥酸多晶型进行测量,得到它们在的太赫兹波段的光学参数。本发明用太赫兹时域光谱技术测定样品方法简单、快捷、无损。