简介:
本发明公开了一种真空电子器件内部真空度检测方法,包括:确定真空电子器件的加电方式和加电参数;将真空电子器件的标准样管与离子流测量系统连接;将标准样管进行抽真空,使标准样管内达到需要对标的真空度;测量标准样管在所对标的真空度下的阳极离子流;测试不同的对标真空度下的离子流,完成离子流与真空度对应关系的标定工作,得到离子流‑真空度标定表或离子流‑真空度量化模型;将真空电子器件的待测样管与离子流测量系统连接;测量待测样管的阳极离子流;对照离子流‑真空度标定表或将所测量的阳极离子流代入离子流‑真空度量化模型,获得待测样管的真空度。本发明能够对真空电子器件内部真空度进行高真空、高测量精度的无损检测。
本发明公开了一种真空电子器件内部真空度检测方法,包括:确定真空电子器件的加电方式和加电参数;将真空电子器件的标准样管与离子流测量系统连接;将标准样管进行抽真空,使标准样管内达到需要对标的真空度;测量标准样管在所对标的真空度下的阳极离子流;测试不同的对标真空度下的离子流,完成离子流与真空度对应关系的标定工作,得到离子流‑真空度标定表或离子流‑真空度量化模型;将真空电子器件的待测样管与离子流测量系统连接;测量待测样管的阳极离子流;对照离子流‑真空度标定表或将所测量的阳极离子流代入离子流‑真空度量化模型,获得待测样管的真空度。本发明能够对真空电子器件内部真空度进行高真空、高测量精度的无损检测。