简介： 本发明的目的在于提供一种基于微波热成像技术的吸波涂层内部缺陷检测装置及方法，属于吸波材料缺陷无损检测技术领域。该装置利用天线辐射的电磁信号致热吸波涂层，并借助红外热像仪测量涂层的内部缺陷的红外信号，通过改变致热功率使涂层表面的缺陷区域的温度达到动态平衡，结合热能与电磁能的转化关系，建立反射率、涂层入射场强以及缺陷区域温度的关系式，最终建立反射率与缺陷深度的关系。本发明方法不需考虑线缆损耗的影响，使得缺陷深度计算结果更为准确。