利用射频标签阵列和其极化特性检测物品质量的装置及方法
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利用射频标签阵列和其极化特性检测物品质量的装置及方法
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简介: 本发明公开了一种利用射频标签阵列和其极化特性检测物品质量的装置,包括正交极化排列或者并排排列的射频标签即射频标签阵列,频谱仪,所述射频标签内包括天线和射频芯片,射频标签充电后发射信号,频谱仪或者射频接收机收集阵列中各个射频标签产生的回波射频信号并进行分析和处理。本发明的一种利用射频标签阵列和其极化特性检测物品质量的装置,通过使用射频标签阵列,有效克服了从单个射频标签的回波射频信号无法提取所附着物品足够信息的缺陷。射频标签阵列不同的阵列组合可以适应对不同物品无损监测的需求,同时通过个性化的射频标签天线的设计和组阵,改善对有些物品通过单个射频标签无法进行有效质量监测的状况。
本发明公开了一种利用射频标签阵列和其极化特性检测物品质量的装置,包括正交极化排列或者并排排列的射频标签即射频标签阵列,频谱仪,所述射频标签内包括天线和射频芯片,射频标签充电后发射信号,频谱仪或者射频接收机收集阵列中各个射频标签产生的回波射频信号并进行分析和处理。本发明的一种利用射频标签阵列和其极化特性检测物品质量的装置,通过使用射频标签阵列,有效克服了从单个射频标签的回波射频信号无法提取所附着物品足够信息的缺陷。射频标签阵列不同的阵列组合可以适应对不同物品无损监测的需求,同时通过个性化的射频标签天线的设计和组阵,改善对有些物品通过单个射频标签无法进行有效质量监测的状况。
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标签:无损检测
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