简介:
本实用新型涉及无损检测技术,具体涉及一种相控阵超声检测能力验证试块组,其包括YZ‑Ⅰ型、YZ‑Ⅱ型、YZ‑Ⅲ型、YZ‑Ⅳ型和YZ‑Ⅴ型共五个试块且其厚度依次分别对应为4mm、8mm、15mm、20mm和40mm。每个试块上根据厚度设置有数个横通孔以及一对刻槽,提高检测的可靠性。
本实用新型涉及无损检测技术,具体涉及一种相控阵超声检测能力验证试块组,其包括YZ‑Ⅰ型、YZ‑Ⅱ型、YZ‑Ⅲ型、YZ‑Ⅳ型和YZ‑Ⅴ型共五个试块且其厚度依次分别对应为4mm、8mm、15mm、20mm和40mm。每个试块上根据厚度设置有数个横通孔以及一对刻槽,提高检测的可靠性。