简介： 本发明公开了一种高压隔离开关触头镀银层厚度简易检测方法，该方法按以下步骤进行：步骤一、使用X荧光合金分析仪，用其探头对高压隔离开关触头的镀银层的不同部位进行测量以获得一组测量数据，该组测量数据至少包括3个数据值；步骤二、依据测量的镀银层成分含量和厚度关系曲线y=-ln(1-x)/0.1466（10≤ｙ≤25）为依据，式中y为镀银层厚度，x为Ag含量百分数，以Ag含量的最小值Agmin和每组测量数据中Ag含量之间的最大差值δmax的数值判断镀银层厚度是否合格，当每组测量数据中Agmin≥94.7%且δmax≤4%时，判定镀银层为合格。本发明方法可以实现对高压隔离开关镀银层厚度现场快捷的无损检测。