简介： 本发明公开了一种基于光子传输模拟的苹果高光谱品质检测方法。本发明分析了光子入射最佳位置和源探距离，并用点光源高光谱仪实际拍摄红富士苹果进行验证。分析表明，光子在苹果赤道位置入射，具有73.12％概率到达更深的深度。源探位置与苹果的光学参数有关，形状为圆环，其源探内外径位置半径为1.5mm‑10.15mm。点光源高光谱仪采集的红富士苹果入射位置为赤道，源探位置为半径为3.6mm‑10.8mm的圆环，与模拟数据分析结果基本一致。蒙特卡洛光子传输模拟方法为研究高光谱苹果品质无损检测开辟了新思路，分析结果可以为研究高光谱品质检测实验设计和苹果便携式品质检测光学仪器设计提供理论基础。