简介： 本发明公开一种复合绝缘子内部气隙检测方法及装置，所述方法包括：获取所述正常样品和缺陷样品的太赫兹反射波集合，制定二范数比对表；获取所述待测复合绝缘子界面处的太赫兹反射波，对每个缺陷样品界面处的太赫兹反射波和所述正常样品界面处的太赫兹反射波求差值二范数，得到实际差值二范数；若所述实际差值二范数小于预设阈值，所述待测复合绝缘子不存在内部气隙；所述实际差值二范数大于或等于预设阈值，根据所述二范数比对表和所述实际差值二范数，确认所述待测复合绝缘子的内部气隙尺寸。采用本发明，实现基于太赫兹的复合绝缘子内部气隙缺陷的无损检测，操作简便、检测精度高。