简介： 本发明公开了一种金属电导率涡流检测方法，包括以下步骤：1)选择电导率分别为σ1、σ2的两个试件作为标准试件；2)综合考虑以确定合适的激励频率f；3)将连接阻抗分析仪的探头分别置于两个标准试件的上方，测得阻抗：Z1＝R1+X1，Z2＝R2+X2；4)通过厚度为1mm的标准垫片分别测得探头置于两个标准试件上方提离为1mm时的阻抗：ZT1＝RT1+XT1，ZT2＝RT2+XT2，将其作为基准，与3)中的阻抗值差分处理，构造关键点A、B；5)由A、B两点得出目标函数。6)对待检金属按以上步骤操作得到|ΔX/ΔR|并带入5)中得出的目标函数以求电导率σ。本发明采用涡流技术检测金属电导率，对试件无损，检测环境要求低，检测精度高，检测小电导率金属材料分辨率高，并且检测时所需参数少，同时克服了现有金属电导率检测仪需要校准的局限性。