简介： 本申请涉及一种核心数量的检测系统及方法，核心数量的检测系统包括：测试板，测试板上设有片上系统芯片，测试板用于控制片上系统芯片运行测试程序以进行多次循环计算，并在每次循环计算开始时生成启动计时信号，在每次循环计算结束时生成对应的结束计时信号；现场可编程逻辑门阵列装置，与测试板连接，用于基于启动计时信号和对应的结束计时信号得到每次进行循环计算的计时结果，并根据循环计算的次数、各计时结果和核心数量判定条件对片上系统芯片的核心数量进行判定。由于本申请无需对片上系统芯片进行破坏性处理，经检测后的片上系统芯片仍能继续使用，从而能够实现无损检测。