简介:
本申请适用于无损检测技术领域,提供了一种缺陷深度检测方法、终端设备及存储介质,其中,上述方法包括:获取原始热成像图像序列,并对原始热成像图像序列进行线扫描,生成线扫描图像;根据线扫描图像提取裂纹深度特征;根据裂纹深度特征确定原始热成像图像序列中缺陷的深度。本申请实施例提供的缺陷深度检测方法、终端设备及存储介质,改变了现有技术采用静态检测对热成像图像进行处理的方法,通过线扫描以及线扫描重建,得到热成像图像序列对应的线扫描图像,实现了高效率的动态检测,能够在扫描图像中提取的裂纹深度特征中包含各个像素点的连续温度变化信息。
本申请适用于无损检测技术领域,提供了一种缺陷深度检测方法、终端设备及存储介质,其中,上述方法包括:获取原始热成像图像序列,并对原始热成像图像序列进行线扫描,生成线扫描图像;根据线扫描图像提取裂纹深度特征;根据裂纹深度特征确定原始热成像图像序列中缺陷的深度。本申请实施例提供的缺陷深度检测方法、终端设备及存储介质,改变了现有技术采用静态检测对热成像图像进行处理的方法,通过线扫描以及线扫描重建,得到热成像图像序列对应的线扫描图像,实现了高效率的动态检测,能够在扫描图像中提取的裂纹深度特征中包含各个像素点的连续温度变化信息。