简介:
本发明公开了一种原子层沉积系统原位实时检测方法及装置,所述方法包括:在对样片进行原子层沉积成膜时,通过反射式高能电子衍射检测所述样片的表面,以获得检测数据;根据所述检测数据,获得所述样片的原子层沉积反应机理信息。用以解决现有技术中的原子层沉积技术,其反应机理缺乏合适的原位检测技术的技术问题。提供了一种无损的原子层沉积实时检测方法及装置。
本发明公开了一种原子层沉积系统原位实时检测方法及装置,所述方法包括:在对样片进行原子层沉积成膜时,通过反射式高能电子衍射检测所述样片的表面,以获得检测数据;根据所述检测数据,获得所述样片的原子层沉积反应机理信息。用以解决现有技术中的原子层沉积技术,其反应机理缺乏合适的原位检测技术的技术问题。提供了一种无损的原子层沉积实时检测方法及装置。