简介： 本发明提供了一种基于二阶模式波的薄板结构超声TOFD检测盲区抑制方法，属于无损检测技术领域。该方法采用由超声探伤仪、TOFD探头、有机玻璃倾斜楔块和扫查装置组成的TOFD检测检测系统，沿待测薄板工件表面实施B扫查与信号采集，获得不同扫查位置处的A扫描信号集合。利用费马定理、斯涅尔定律与波型转换原理求解不同扫查位置处的二阶模式波最短传播声时与界面出射点位置，进而结合模拟退火算法确定晶片接收点与盲区内缺陷端点深度。与现有的可替代TOFD技术相比，该方法能够有效抑制薄板结构检测盲区并实现近表面缺陷深度定量，具有较高的工程应用价值。