简介： 一种表面缺陷电磁超声检测方法，属于无损检测技术，解决现有电磁超声检测方法中提离距离的变化影响检测准确度的问题。本发明通过改变电磁超声传感器检测探头的提离距离，测量不同提离距离下标准试样的信号，并进行信号处理，得到提离斜率，利用不同缺陷深度下提离斜率与缺陷深度的关系，建立相应的拟合函数；将检测待测缺陷所得到的提离斜率代入所述拟合函数，达到定量检测缺陷的目的。本发明简单易行，与现有的采用峰峰值强度和透射系数定量检测缺陷的方法相比，本发明可以减少检测探头提离距离的影响，而且不用在检测过程中测量相同提离距离下的无缺陷的检测信号。