简介： 本发明涉及青铜器表面及亚表面微缺陷检测方法及系统，所述检测方法包括以下步骤：PLC控制两激光器同时发出两束中心频率不同的激光，通过光路系统集成作用于待测含缺陷青铜器表面的同一点；在待测青铜器受激光辐射同侧表面放置电容式位移传感器测量激光激发超声信号；接收的超声信号经数据采集系统集成存储于数据处理系统用于频率分析使用；通过数据处理系统集成可以对青铜器表面或亚表面存在的缺陷进行二维平面成像检测；进而可以对缺陷深度进行检测。本发明方法及其系统能够扫描检测到青铜器表面或亚表面缺陷的三维位置及尺寸信息，具有高效率、高精度、对被测体无损伤等优点。