简介： 本发明涉及一种使用光学方法快速判断近似均匀的非透明介质中是否存在异质体并确定异质体位置和大小的方法，属于光学无损检测领域，包括：使用多个检测器对光源经近似均匀的非透明被测物体后的出射光进行检测，在多个检测器获得被测物体差分光密度(ΔOD)的基础上，对差分光密度差异(ΔOD’)进行计算，并对差分光密度差异曲线的特征参数进行提取，根据所提取的特征参数判定介质中是否存在异质体以及异质体的横向和纵向位置。本发明的有益效果是：为基于光学检测近似均匀的非透明介质中异质体检测技术提供最佳光源‑探测器放置位置的辅助参考，其准确的光源‑探测器定位将有效提高光学无损检测的精度；同时，本方法可作为快速评估介质内是否含有异质体的有效辅助手段。