简介： 本发明公开了一种电子器件可靠性的检测方法及系统,该方法包括建立电子器件的环境敏感参数与性能参数偏移量之间的预测模型,测量所述电子器件的环境敏感参数,根据所述电子器件的环境敏感参数测量值和所述预测模型预测所述电子器件的性能参数偏移量,由所述性能参数偏移量确定所述电子器件的可靠性,通过以上技术方案,能够实现快速无损地对电子器件进行逐个检测。