简介： 本发明涉及一种用于对包括细长微结构(M)的部件(P)进行无损检测的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：将线性换能器(TT)移动至位于面对所述部件表面(S)的多个位置({P₁,P₂,...,P_m})，所述线性换能器包括沿着主方向(O)对齐的多个换能器元件({T_‑1,T₂,...,T_n})；发射多个基本超声波束({F₁,F₂,...,F_n})，由所述多个换能器元件中的每一个在所述表面的方向上发射所述多个基本超声波束中的每一个；测量多个回波信号({E₁,E₂,...,E_m})和多个结构噪声({B₁,B₂,...,B_m})，由所述多个换能器元件中的每一个来测量所述多个回波信号中的每一个和所述多个结构噪声中的每一个，由在该部件表面之下的缺陷(Df)对基本超声波束的反向散射来产生所述回波信号中的每一个，由所述细长微结构对基本超声波束的反向散射来产生所述结构噪声中的每一个；以及当在所述多个位置上多个所测量的结构噪声中的一个的振幅最小时，确定该细长微结构的伸长方向(D)。本发明还涉及一种用于实现该检测方法的无损检测系统。