简介： 本发明涉及测量技术领域,具体涉及一种高浓度纳米颗粒粒径的测量方法及其检测装置。本发明所述方法能有效进行高浓度样品测量,对样品无干扰、无损伤,能快速、准确测量纳米颗粒粒径,所述装置结构简单紧凑,小型实用,适合于现场或在线监测的优点。