简介:
一种用于孔隙度测量和缺陷检测的方法和设备。本发明涉及并公开了一种用于用包括超声探针的超声系统来无损检查复合结构的方法和设备,包括:在无槽环境中定位所述复合结构;以及用所述超声系统扫描所述复合结构,以测量由所述复合结构反射到单个超声探针的超声波。所述复合结构的物理特性至少部分基于所测量的超声波进行确定。
一种用于孔隙度测量和缺陷检测的方法和设备。本发明涉及并公开了一种用于用包括超声探针的超声系统来无损检查复合结构的方法和设备,包括:在无槽环境中定位所述复合结构;以及用所述超声系统扫描所述复合结构,以测量由所述复合结构反射到单个超声探针的超声波。所述复合结构的物理特性至少部分基于所测量的超声波进行确定。