简介： 本发明涉及一种BGA芯片焊点缺陷逐点扫描测温检测方法，包括：将BGA芯片固定在三维移动平台上；将红外热像仪固定在与三维移动平台的z轴相连的支撑架上；采用入射角度可调的支架固定激光器；使激光器的激光束斑对准BGA芯片的基底上的待测焊盘进行预热；对待测焊盘进行加热；若温升最高为55℃±3℃，则判断为合格焊点；若温升最高在25℃±3℃，则判断为虚焊、气孔、裂纹、缺球缺陷；若温升最高在40℃±3℃，则判断为桥连；调整三维移动平台的x轴或y轴，使得激光器的激光束斑对准BGA芯片的基底上的下一个待测焊盘。本发明采用较小的激光束斑直径进行逐点扫描测温的检测方法，具有无损、缺陷辨识度高、判断直观简洁特点。