简介:
本发明公开了一种基于激光散斑检测植物根系生长势的苗木活力实时监测方法,本发明基于激光散斑的亚纳米量级的光学干涉测量方法来代替根生长势测量,本法方法具有无损、非接触的优点,可用于连续监控根系生长过程;同时检测时间短,对苗木的环境破坏小能确保能得到更准确的信息,可以实时、持续地监测根的变化。
本发明公开了一种基于激光散斑检测植物根系生长势的苗木活力实时监测方法,本发明基于激光散斑的亚纳米量级的光学干涉测量方法来代替根生长势测量,本法方法具有无损、非接触的优点,可用于连续监控根系生长过程;同时检测时间短,对苗木的环境破坏小能确保能得到更准确的信息,可以实时、持续地监测根的变化。