简介： 本发明涉及小麦品质检测技术领域，尤其是一种快速预测小麦烘焙品质的检测方法。该种快速预测小麦烘焙品质的检测方法，包括如下步骤：收集小麦样本、小麦样本光谱采集、光谱数据预处理、国标法检测小麦烘焙效果、校正集和预测集样本的选取、烘焙品质预测模型的建立与筛选和小麦检测分析。本发明的一种快速预测小麦烘焙品质的检测方法，利用近红外光谱仪，扫描得到小麦的光谱图，通过不同预处理方法处理光谱信息，得到测定小麦烘焙效果方包高度的近红外校正模型；在实际操作中，通过近红外仪器扫描小麦，即可得到小麦烘焙方包的高度数值，从而预测小麦的烘焙品质；此方法具有无损、绿色、高效、准确的特点，可以实现2s内对小麦烘焙品质进行判定。