简介： 本发明属于无损检测技术领域，公开了一种用于轴向通电法磁粉检测的试件以及该试件的检测方法。检测方法包括以下步骤：将试件固定在磁探检测台两个夹头之间并使试件保持水平；对试件通电磁化并施加磁粉或磁悬液获得磁痕；记录磁化电流大小和磁痕的长度；依据公式计算出磁粉检测深度。本发明所提供的试件能够用于轴向通电法磁粉检测近表面纵向缺陷的可检深度；该试件的检测方法，能够用于制定合适可行的轴向通电法磁粉检测工艺，用于检测铁磁性实心和空心工件近表面纵向缺陷可检深度的工艺灵敏度、分辨率、可靠性验证，优化轴向通电法磁粉工艺参数，提高该类型工件近表面纵向缺陷检测能力。