简介： 本发明公开了一种密封面缺陷三维检测方法，包括：获取密封面上带划痕的图片；根据带划痕的图片获取划痕的长度和初始宽度；根据初始宽度确定扫描路径；根据扫描路径规划扫描轨迹；沿扫描轨迹对划痕进行扫描以确定划痕的深度及最终宽度。与现有技术相比，本发明的密封面缺陷三维检测方法先获取密封面上所有带划痕的图片，从而基本上杜绝了细微划痕的漏检情况；之后根据该图片获取划痕长度及初始宽度，再根据初始宽度确定扫描路径，继而根据扫描路径规划扫描轨迹，最后沿扫描轨迹对划痕进行扫描以确定划痕的深度及最终宽度，从而实现了对密封面缺陷的三维检测，同时提高了测量精度，且实现了对密封面三维缺陷的尺寸量化检测。