简介:
本发明实施例提供一种显示面板的封装检测方法及检测装置、检测系统,涉及显示技术领域,能够无损的对显示面板的受损位置进行检测;该显示面板为包括封装薄膜的显示面板,该封装检测方法包括:获取多个基准显示面板中每个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据;基准显示面板中的封装薄膜未受损;根据多个基准显示面板中每个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据,建立基准太赫兹光谱数据;获取待检测的显示面板的第二太赫兹光谱数据;将第二太赫兹光谱数据与基准太赫兹光谱数据对比,获取待检测的显示面板的受损的位置。
本发明实施例提供一种显示面板的封装检测方法及检测装置、检测系统,涉及显示技术领域,能够无损的对显示面板的受损位置进行检测;该显示面板为包括封装薄膜的显示面板,该封装检测方法包括:获取多个基准显示面板中每个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据;基准显示面板中的封装薄膜未受损;根据多个基准显示面板中每个基准显示面板的第一太赫兹光谱数据,建立基准太赫兹光谱数据;获取待检测的显示面板的第二太赫兹光谱数据;将第二太赫兹光谱数据与基准太赫兹光谱数据对比,获取待检测的显示面板的受损的位置。