简介： 本发明公开了一种基于扩展有限元法的多缺陷群无损识别方法，由正分析和反分析组成。扩展有限元法计算网格独立于结构内部的不连续面，因此缺陷几何变化时无需重构计算网格，故扩展有限元法用于正分析，以节约时间。反分析由三步组成：(i)以稀疏的测点确定包含缺陷群的子域，缩小搜索域；(ii)在子域内添加测点，对缺陷群进行逐个识别以确定群内缺陷的大致位置与大小；(iii)以第二部的结果作为初始解，加速收敛至缺陷的真实形态。本发明能在缺陷数量未知的前提下对多缺陷群进行准确识别，且能显著地减少测点用量和迭代次数。