简介： 本发明提供了一种电阻器抗辐照能力无损筛选方法及装置，方法包括：获取作为随机子样的电阻器辐照前的电阻值和1/f噪声电压功率谱幅值；获取作为随机子样的电阻器经过辐照后的电阻值；基于辐照前的电阻器的电阻值和经过辐照后的电阻器的电阻值，计算辐照前后的电阻值漂移量；以1/f噪声电压功率谱幅值作为信息参数，以电阻值漂移量作为辐照性能参数，建立多元线性回归方程，并计算线性回归方程中的系数向量；基于系数向量，建立信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程；利用所述无损筛选回归预测方程，对同批其他电阻器器件进行筛选。本发明能够实现在对电阻器无损坏的前提下，进行对元器件准确、高效的抗辐照能力的测试筛选。