简介： 本发明公开了一种编码结构光的阶次无损校正方法，所述方法包括以下步骤：构建由投影系统、以及相机组成的结构光三维测量系统；由相移法获取正常光栅顺序的包裹相位与改变相移顺序获得的包裹相位和并分别提取两组包裹相位的跳变位置D₁和D₂，再通过求相交的方法确定需校正位置P₁；经过解包裹运算可得绝对相位值Φ(x,y)，对绝对相位值Φ(x,y)采用相位比较方法对相位跳变点处P₁处的阶次值进行校正；通过八邻域遍历寻找前述未处理完全的阶次噪声，并运用邻域相位比较方法对阶次噪声的阶次值进行校正。本发明解决了编码结构光所存在的阶次误差问题，并同时适用于静态与动态测试的阶次噪声校正环节。