简介： 本发明提供了一种脉冲宽度调制器抗辐照能力无损筛选方法及装置，方法包括：获取作为随机子样的脉冲宽度调制器辐照前的输出占空比和15Hz噪声点频值；获取作为随机子样的脉冲宽度调制器经过辐照后的输入灌电流；以输出占空比和15Hz噪声点频值作为信息参数，以输入灌电流作为辐照性能参数，建立多元线性回归方程，并计算线性回归方程中的系数向量；基于系数向量，建立所述信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程；利用无损筛选回归预测方程，预测单个脉冲宽度调制器的抗辐照性能，对同批其他脉冲宽度调制器进行筛选。本发明能够实现在对脉冲宽度调制器无损坏的前提下，进行对元器件准确、高效的抗辐照能力的测试筛选。