简介： 本发明提供了一种肖特基二极管抗辐照能力无损筛选方法及装置，方法包括：获取辐照前作为随机子样的肖特基二极管的反向漏电流、反向击穿电压和噪声电压功率谱幅值；获取经过辐照后的作为随机子样的肖特基二极管的反向漏电流；计算辐照前后的反向漏电流退化量；以反向击穿电压和噪声电压功率谱幅值作为信息参数，以反向漏电流退化量作为辐照性能参数，建立多元线性回归方程，估计线性回归方程中的系数向量；建立无损筛选回归预测方程；利用所述无损筛选回归预测方程，预测单个器件的抗辐照性能。本发明能够实现在对肖特基二极管无损坏的前提下，进行对元器件准确、高效的抗辐照能力的测试筛选。