简介： 本发明公开了一种基于光纤光谱技术的苹果表面早期损伤快速无损识别方法，该方法包括以下步骤：收集完好无损和表面有轻微损伤苹果样本随机分配，建立校正样本集和检验样本集；利用光谱采集系统采集校正样本集和检验样本集中苹果样本的光谱反射率，得到校正和检验样本集原始光谱数据；采用标准正态变换（SNV）对原始光谱数据进行预处理，并利用主成分分析方法对预处理后的光谱数据进行降维，以提取能反映苹果表面早期损伤的特征光谱，建立校正和检验样本集特征数据库；最后，利用简化的K最近邻（SKNN）模式识别方法，建立苹果表面早期损伤的识别模型。本发明基于光纤光谱技术结合化学计量学，可快速、无损识别出表面有轻微损伤的苹果。