简介： 本发明提供了一种光电耦合器抗辐照能力无损筛选方法及装置，方法包括：获取作为随机子样的光电耦合器辐照前的电流传输比和1/f噪声幅值；获取作为随机子样的光电耦合器经过辐照后的电流传输比；计算辐照前后的电流传输比变化量；对数据进行预处理，以噪声幅值作为信息参数，以电流传输比变化量作为辐照性能参数，建立多元线性回归方程，并计算线性回归方程中的系数向量；基于系数向量，建立所述信息参数和辐照性能参数之间的无损筛选回归预测方程；利用无损筛选回归预测方程，预测单个光电耦合器件的抗辐照性能，对同批其他光电耦合器器件进行筛选。本发明能够实现在对光电耦合器无损坏的前提下，进行对元器件准确、高效的抗辐照能力的测试筛选。