简介： 本发明公开了一种基于高光谱成像技术的苹果表面缺陷快速无损识别方法，该方法包括以下步骤：收集完好无损和表面有缺陷苹果样本随机分配，建立校正样本集和检验样本集；利用高光谱图像采集系统采集校正和检验样本集苹果样本的高光谱图像；对高光谱图像进行黑白校正，并通过掩膜处理以消除背景，使图像中仅含苹果。然后，分别提取苹果正常区域以及表面有缺陷区域的平均光谱，并采用多元散射校正（MSC）对原始光谱进行预处理，得到校正和检验样本集光谱数据。最后，利用偏最小二乘判别分析方法结合化学计量学，建立苹果表面缺陷的识别模型。本发明通过高光谱成像技术可快速、无损地识别出表面有缺陷的苹果。