简介： 提供了一种用于为布置在物体(12)中的基底(16)上的绝缘涂层(14)确定厚度和热导率的装置(10)。该装置包括用于对物体(12)的表面快速施加多个光脉冲(24)的光源(20),其中该表面包括绝缘涂层(14)。该系统还包括记录系统(28),该记录系统(28)被配置成收集表示多个光脉冲在物体(12)中的传播的数据(36)。该装置还包括处理器(34),该处理器(34)被耦合到记录系统(28),并且被配置成接收来自记录系统(28)的数据(36),以及被配置成确定绝缘涂层(14)的厚度值和热导率值。