简介： 本发明涉及一种光学无损探测单纳米颗粒表界面转化的方法。该方法利用单纳米颗粒表界面转化光学成像系统对单个纳米颗粒的表界面转化过程进行无标记识别，通过计算目标颗粒的本征参数ψ——这一特征量的变化，分析颗粒的表界面转化过程，克服目前现有分析方法难以对纳米颗粒的表界面转化过程进行原位实时精准分析与识别的难题，该方法具有非侵入性、高通量、抗干扰、研究对象宽泛等优点，可用于单粒子水平下的纳米颗粒表界面转化及构效关系等研究，拓展了纳米科学成像分析的应用。