简介： 本发明公开了一种无损监测晶界弛豫强化纳米金属的方法及工艺参数的确定方法，监测方法包括以下步骤：(1)采用X射线衍射仪，获取纳米金属晶界弛豫过程中的至少两个衍射晶面的衍射图谱；(2)计算纳米金属晶界弛豫过程中各衍射晶面的晶面间距；(3)计算纳米金属晶界弛豫过程中各衍射晶面的晶格应变。本发明首次提出利用X射线衍射技术原位监测晶界弛豫(低温热处理)过程中晶面间距的变化，以平均晶格应变作为准确反映晶界弛豫程度的微观结构特征指标，有效解决了热处理工艺参数难以确定及晶界弛豫强化效果难以保证的问题，为利用高效低能的热处理设计制备高性能纳米金属材料提供工艺指导和质量保证。