简介： 本实用新型提供一种LED光源无损实时芯片可辩测量装置，其包括：成像机构、投影机构、光束采集机构、光谱分析机构以及计算机；LED光源位于成像机构的一侧，投影机构位于成像机构的另一侧，LED光源发出的光束经成像机构投射于投影机构上，光束采集机构包括采集端以及光束传输通道，成像的光束经采集端的采集，沿光束传输通道传输至光谱分析机构，计算机与光谱分析机构相连接并进行数据传输，计算机中存储有光谱‑温度标准曲线，计算机输出测量结果。本实用新型能够方便地对由多芯片组成的LED光源的结温进行测量，并根据测量结果对LED光源的质量、使用寿命作出评价。同时，测量过程中，不必接触LED光源，保证了测量结果的准确性和实时性。