简介： 本发明属于测量技术领域，具体为一种薄壁壳体无损综合测量装置。该测量装置包括：传感器、运动机构、基座、龙门架；其中，传感器采用双头精密位移传感器，包括上测头和下测头的双测头测量；运动机构为七自由度机构，包括四个移动自由度机构以及三个转动自由度机构；该装置针对变曲率薄壁壳体，通过更换传感器，以用于不同的测量需求，包括，内轮廓测量、外轮廓的测量、全局表面缺陷的测量等，可实现大尺寸、高陡度、深内腔的薄壁壳体的形位误差（内外表面形状误差、壁厚）及全局表面缺陷的高精度测量。