简介： 本发明属于微波无损测量领域，提供一种基于开口矩形波导的介质复介电常数无损反射测量方法；本发明采用将待测介质板远离辐射口径面的方式，减弱待测介质板复介电常数以及尺寸的变化对波导辐射口径面不连续处的高次模反射场分布的影响，在特定距离范围内可认定高次模反射场分布近似不变，进而通过对已知介电常数介质板反射系数的测量，实现对单模分析方法误差的校准，本发明仅仅考虑波导辐射口径面主模传输就能够得到准确的结果，计算过程更加简单，大大减少运算量；且由于开口矩形波导无需紧贴待测介质，也可实现介质复介电常数的非接触测量，有着更加广阔的应用前景。