简介： 本发明涉及一种珍珠珠层厚度的无损测量装置及方法，该装置由太赫兹时域光谱系统主机、太赫兹发射探头、太赫兹接收探头、珍珠测试平台等组成，其中，上述主机用于实现太赫兹时域波形测量功能；太赫兹发射探头用于产生脉冲太赫兹波，并聚焦入射至待测珍珠；太赫兹接收探头用于采集被待测珍珠反射回来的太赫兹时域波形信号，该波形信号中包含太赫兹波分别在珍珠外表面和内部珠核界面反射形成的反射峰，通过测算两个反射峰的时间间隔，即可测算得到珍珠层的厚度。本发明的显著技术优势为：能够在无损条件下测得珍珠层的厚度，精度可达到微米量级，并且对操作人员无辐射伤害。本发明可应用于珍珠的质量评价。