简介： 一种LED芯片的无损测试方法，包括以下步骤：（1）制备电极导电膜，该电极导电膜包括透明绝缘基底及设置在基底上的透明导电槽；（2）将需要测试的LED芯片表面覆盖上电极导电膜，使LED芯片的正负电极位于对应的透明导电槽内；（3）将自动测试机的两个探针扎到电极导电膜上接触正负电极位置区域；（4）测试完毕之后将电极导电膜去除。该测试方法利用测试探针与LED芯片电极间接接触代替直接接触，在芯片电极表面覆盖一层电极导电膜作为保护，解决了LED芯片测试中的针痕问题，实现无损伤测试，对电极进行保护，同时该方法操作简单、增加了测试针的使用频次，降低测试成本。