无损探伤测厚仪
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无损探伤测厚仪
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简介: 本发明公开了一种无损探伤测厚仪,控制电脑通过A/D转换器控制X光射线源发射X光射线,X光线发射面外活动设有待测物夹具,待测物可固定定位于待测物夹具中,待测物夹具的轴向中心线与X光线发射面平行,数字平板图像产生器设于待测物夹具背离X光射线源的一面外,数字平板图像产生器可捕捉穿过待测物后的X光射线并形成图像,数字平板图像产生器通过图像采集卡将图像传输到控制电脑,控制电脑将该图像显示在图形界面显示屏上,实际操作时利用已知尺寸的物体来界定图形界面显示屏每一像素的尺寸,通过待测物被捕捉的图形的像素面阵的明暗边缘,来精确换算出待测物的尺寸及各边缘间的厚度,从而得到所需的厚度。
本发明公开了一种无损探伤测厚仪,控制电脑通过A/D转换器控制X光射线源发射X光射线,X光线发射面外活动设有待测物夹具,待测物可固定定位于待测物夹具中,待测物夹具的轴向中心线与X光线发射面平行,数字平板图像产生器设于待测物夹具背离X光射线源的一面外,数字平板图像产生器可捕捉穿过待测物后的X光射线并形成图像,数字平板图像产生器通过图像采集卡将图像传输到控制电脑,控制电脑将该图像显示在图形界面显示屏上,实际操作时利用已知尺寸的物体来界定图形界面显示屏每一像素的尺寸,通过待测物被捕捉的图形的像素面阵的明暗边缘,来精确换算出待测物的尺寸及各边缘间的厚度,从而得到所需的厚度。
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标签:无损检测
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