简介： 本发明提供一种基于DIC的薄壁结构屈曲强度无损探针测量方法，包括：在试件表面制作散斑；对试件进行轴压试验，并通过相机拍摄系统对试件进行图像采集，获取图像信息；分析所述图像信息，得到试件在轴压试验中的变形规律，并根据所述变形规律获取初始缺陷位置；对试件施加轴向载荷，并通过探针在试件的初始缺陷位置施加径向扰动；根据探针的最大压力值与轴向载荷组成的数据进行二次拟合，预测试件的极限承载压力。本发明实现了对薄壁圆柱壳的无损检测，提高了对薄壁圆柱壳缺陷敏感性测量的准确性，且避免了圆柱壳的损耗，节约了成本。