简介： 本发明涉及一种无损测量纳米颗粒应力状态的新方法,属于X射线测量领域。采用X射线吸收精细结构谱测量包裹在介质材料中的纳米颗粒原子间距离,通过分析纳米颗粒原子间距离的变化,可以计算得到纳米颗粒的应力状态和大小。该方法与现有的应力测量方法最根本不同之处是采用X射线吸收精细结构谱这种无损检测方法分析测量纳米颗粒的应力。该方法从根本上填补了纳米颗粒应力分析的空白,在分析纳米颗粒的应力状态、控制纳米颗粒的有序生长和量子器件的实用化方面有明显的应用价值。