简介： 本发明提供一种基于高光谱的苹果冲击后损伤参数的无损预测方法，包括以下步骤，获取样品跌落损伤的平均压强和接触力；获取样品的高光谱图像；对高光谱图像进行黑白校正，提取校正后高光谱图像损伤区域的平均光谱；获取平均光谱的特征波长；建立高光谱数据与损伤参数的预测模型。本发明的有益效果是实现果品力学参数的预测，量化果品的损伤程度，可以为评估果品的机械损伤提供重要依据，相对于传统的人工感官检测及计算相关参数的方法，可以节省时间，提高效率，能实现快速、无损评估与预测，对果品市场的产业发展有重要意义。